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美国赛默飞世尔FEI
扫描电镜(SEM)
透射电子显微镜
能谱仪
扫描电镜
钨灯丝电镜,FEIQuanta™系列灵活、通用,足以应对当今人们广博的研究方向这一挑战。“分析任何样品,得到所有数据”,在Quanta上可得到表面像和成份像,并可辅以多种附件来确定材料的性质和元素组成。
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扫描电镜
Verios是FEI领先的XHR(极高分辨率)SEM系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中,它可在1至30kV范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度,满足材料精密测量所需,同时又不会削弱传统扫描电子显微镜(SEM)所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。 可在1至30kV范围内提供…
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场发射扫描电子显微镜
Apreo 功能最为丰富的高性能SEM Apreo复合透镜结合了静电和磁浸没技术,可产生前所未有的高分辨率和材料对比度。 Apreo是研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台,而不会降低磁性样品性能。传统的高分辨率SEM透镜技术分为两类:磁浸没或静电。FEI首次将两种技术结合到一个仪器…
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