材料分析和开发

    Nexsa 能谱仪具有分析灵活性，可最大限度地发挥材料潜能。在使结果保持研究级质量水平的同时，以可选多技术联合的形式提供灵活性，从而实现真正意义上多技术联合的分析检测和高通量。 

标准化功能催生强大性能：  

·  绝缘体分析

·  高性能XPS性能

·  深度剖析

·  多技术联合

·  双模式离子源，使深度剖析功能得到扩展

·  用于 ARXPS 测量的倾斜模块

·  用于仪器控制、数据处理和报告生产的 Avantage 软件

·  小束斑分析 ，可选的升级：可将多种分析技术集成到您的检测分析中是自动运行

·  ISS：离子散射谱，分析材料最表面1-2原子层元素信息，通过质量分辨可分析一些同位素丰度信息。

·  UPS：紫外光电子能谱用于分析金属/半导体材料的价带能级结构信息以及材料表面功函数信息

·  拉曼：拉曼光谱技术用于提供分子结构层面的指纹信息

·  REELS：反射电子能量损失谱可用于H元素含量的检测以及材料能级结 构和带隙信息

SnapMap

    借助 SnapMap 的光学视图，聚焦于样品特征。光学视图可以帮助您快速定位感兴趣区域，同时生成完全聚焦的 XPS 图像，以进一步设置您的实验。

1.X 射线照射样品上的一个小区域。

2.收集来自这一小区域的光电子并将其收集于分析仪

3.随着样品台的移动，不断收集元素图谱

4.在整个数据采集过程中监测样品台位置，这些位置的图谱成像用来生成 SnapMap 

应用领域 

· 电池

· 生物医药

· 催化剂

· 陶瓷

· 玻璃涂层

· 石墨烯

· 金属和氧化物

· 纳米材料

· OLED

· 聚合物

· 半导体

· 太阳能电池

· 薄膜

1. 分析仪类型   180° 双聚焦半球型分析器，配备 128 通道检测器

2. X 射线源类型   单色化、微聚焦、低功率Al Ka

3. X 射线源X射线光斑尺寸   10 - 400 µm（可按照 5 µm 的步长进行调节）

4. 样品区域   3600 mm² 

5. 最大厚度（公制）样品   20 mm

6. 真空系统     2x260 l/s-1涡轮分子泵，配备自动钛升华泵以及前级泵